教授，为我校半导体器件可靠性物理研究室主任，博士生导师，享受国务院颁发的特殊津贴，中国电子学会高级会员，可靠性分会委员，长期从事半导体器件（含IC）的研制及可靠性研究工作，在该领域有较深造诣，取得了一批具有国际水平的理论和成果，完成了多项国家、电子部和北京市重点攻关课题，曾获省、部级科技成果奖四项，发表论文数十篇。

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